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什么是AFM探針？AFM探針，是在掃描隧道顯微鏡探針基礎上發明的一種新的原子級高分辨率儀器，可在大氣、液體環境中檢測納米區材料及樣品的物理特性，也可直接進行納米操作。1985年，來自IBM的Binning和Stanford大學的Quate開發出了AFM探頭，以彌補STM的不足，使之能夠對任何樣品(不論是否導電)表面進行......

AtomicForceMicroscope原子力顯微鏡,AFM，是一種用于研究固體材料表面結構的分析儀。該系統利用探測被測樣品表面與微量力敏元件之間具有非常微弱的原子間相互作用力，研究了物質的表面結構及其性質。把一對弱力極敏感的微懸臂一端固定在一端，另一端的微小針尖靠近樣品，當與樣品相互作用時，作用力會使懸臂變形或改變......

具有接觸、輕敲、相移成像、抬升等多種模式的掃描探針顯微鏡是一種綜合的原子力顯微鏡.摩擦顯微鏡.掃描隧道顯微鏡.磁力顯微鏡和靜電鏡組成的設備，能被測得的樣品的表面特征，例如形態.粘彈.摩擦，吸附力，磁性/電場等。利用掃描探針顯微鏡可以實時獲取樣品表面實空間的三維圖像。它不僅能適應周期結構的表面探測，而且能適應真空、大氣、......

彭院士碳基芯片團隊HR-AFM原子力顯微鏡安裝培訓完成，該設備將用于碳納米管等一維材料的形貌和高度信息測量。杭州葛蘭帕科技有限公司成立于2006年，隸屬香港葛蘭帕控股集團。公司先后與美國AsylumResearch，美國AFMworkshop，德國Kammrath&Weiss，俄羅斯Nanomaker，法國Stil，荷......