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葛蘭帕NP-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一臺納米分析儀器，用于樣品表面粗糙度和樣品微尺度分析。主要應用包括工藝開發和技術樣品制作的過程控制。

葛蘭帕 AFMWorkshopTT2-AFM原子力顯微鏡 可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

提供原子力顯微鏡定制服務。葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一個與倒置光學顯微鏡聯合的用于生命科學和生物材料樣品研究顯微鏡。 是一個針式掃描的原子力顯微鏡。它包括電子控制器，光杠桿光學探測，光學顯微鏡，用于查看針尖和樣品的位置，獲取圖像結果和后處理的軟件。該系統具有在原子力顯微鏡XY軸上相對于倒置顯微鏡來定位樣品。樣品臺適用于培養皿，載玻片和標準AFM樣品臺.